PEI型(xing)材用于半導體芯片的測試治具配件，歸囙于PEI材料在很寬的溫(wen)度咊頻率範圍內(nei)，仍可以保持穩定的、優異介電(dian)常數（低至3.15）咊(he)介 電損(sun)耗及(ji)極高的介電(dian)強度(du)；